REK-20S紫外熒光硫測定儀 紫外熒光硫含量測定儀采用紫外熒光法測定原理。樣品被引入到高溫裂解爐后，樣品發生裂解氧化反應。在1050℃左右的高溫下，樣品被*氣化并發生氧化裂解，其中的硫化物定量地轉化為二氧化硫。反應氣由載氣攜帶，經過膜式干燥器脫去其中的水份，進入反應室。二氧化硫受到特定波長的紫外線照射，吸收這種射線使一些電子轉向高能軌道。
REK-20S紫外熒光硫含量測定儀采用紫外熒光法測定原理。樣品被引入到高溫裂解爐后，樣品發生裂解氧化反應。在1050℃左右的高溫下，樣品被*氣化并發生氧化裂解，其中的硫化物定量地轉化為二氧化硫。反應氣由載氣攜帶，經過膜式干燥器脫去其中的水份，進入反應室。二氧化硫受到特定波長的紫外線照射，吸收這種射線使一些電子轉向高能軌道。
REK-20S熒光定硫儀采用紫外熒光法測定原理。樣品被引入到高溫裂解爐后，樣品發生裂解氧化反應。在1050℃左右的高溫下，樣品被*氣化并發生氧化裂解，其中的硫化物定量地轉化為二氧化硫。反應氣由載氣攜帶，經過膜式干燥器脫去其中的水份，進入反應室。二氧化硫受到特定波長的紫外線照射，吸收這種射線使一些電子轉向高能軌道。一旦電子退回到它們的原軌道時，過量的能量就以光的形式釋放出來，并用光電倍增管
TS-3000熒光硫測定儀 概 述： TS-3000熒光硫測定儀采用紫外熒光法測定原理。樣品被引入到高溫裂解爐后，樣品發生裂解氧化反應。在1050℃左右的高溫下，樣品被*氣化并發生氧化裂解，其中的硫化物定量地轉化為二氧化硫。反應氣由載氣攜帶，經過膜式干燥器脫去其中的水份，進入反應室。二氧化硫(硫含量)受到特定波長的紫外線照射，吸收這種射線使一些電子轉向高能軌道。一旦電子退回
TS-3000熒光硫測定儀 概 述： TS-3000熒光硫測定儀采用紫外熒光法測定原理。樣品被引入到高溫裂解爐后，樣品發生裂解氧化反應。在1050℃左右的高溫下，樣品被*氣化并發生氧化裂解，其中的硫化物定量地轉化為二氧化硫。反應氣由載氣攜帶，經過膜式干燥器脫去其中的水份，進入反應室。二氧化硫(硫含量)受到特定波長的紫外線照射，吸收這種射線使一些電子轉向高能軌道。一旦電子退回
TS-3000熒光硫測定儀 概 述： TS-3000熒光硫測定儀采用紫外熒光法測定原理。樣品被引入到高溫裂解爐后，樣品發生裂解氧化反應。在1050℃左右的高溫下，樣品被*氣化并發生氧化裂解，其中的硫化物定量地轉化為二氧化硫。反應氣由載氣攜帶，經過膜式干燥器脫去其中的水份，進入反應室。二氧化硫(硫含量)受到特定波長的紫外線照射，吸收這種射線使一些電子轉向高能軌道。一旦電子退回
TS-3000熒光硫測定儀 概 述： TS-3000熒光硫測定儀采用紫外熒光法測定原理。樣品被引入到高溫裂解爐后，樣品發生裂解氧化反應。在1050℃左右的高溫下，樣品被*氣化并發生氧化裂解，其中的硫化物定量地轉化為二氧化硫。反應氣由載氣攜帶，經過膜式干燥器脫去其中的水份，進入反應室。二氧化硫(硫含量)受到特定波長的紫外線照射，吸收這種射線使一些電子轉向高能軌道。一旦電子退回
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